蜂窝复合材料由于其突出的使用性能，目前在航空航天和建筑等领域得到大量的应用。蜂窝复合材料又叫蜂窝夹层板，主要由蒙皮（树脂涂层+合金板）、蜂窝芯和粘接剂组成(见图1)。

Phasor DM的优越性首先体现在它的强大的软件支撑，GE检测科技利用自主研发的Rythem软件平台，开发了DM 检测操作平台。该操作平台具有线性B扫和C扫功能，同时配置编码器，可以为每一次扫查提供精确的线性位置信息。

其次，也是最主要的，GE检测科技特别开发了一款相控阵双晶探头-DM探头（见图3）。

同时，由于是多晶片阵列组合，它具有更大的线性覆盖面积，可以大大提高检测效率（见图5）。

2. 检测试验

检测试件如图6，铝制蜂窝板，蒙皮厚度1mm，粘结层内置3处大小不等的缺陷，检测蒙皮与六角蜂窝芯的粘结质量。

检测仪器如图7，采用GE检测科技生产的Phasor DM相控阵探伤仪，采用B扫和C扫两种方式进行扫查。

B扫描显示的是被检工件纵截面上的信息，横坐标表示探头的扫查轨迹，纵坐标代表声波的传播时间（或距离）。图8是B扫描图形，在相同灵敏度下（25dB），无缺陷部位是均匀的蓝色显示，而缺陷部位则是明显的红色指示，并有多次回波显示。通过DM软件平台，可以直接读出缺陷深度，并确定缺陷位置和面积当量。

C扫描显示的是被检工件内部缺陷的平面形状，纵横坐标均表示探头在工件表面的移动位置，信号幅度用光点辉度表示，辉度越大（在相控阵模式，蓝-绿-黄-红色表示辉度递增），说明反射回波的能量越大。图9是C扫描显示图形，在15dB左右，无缺陷部位是均匀的蓝色显示，而缺陷部位有明显的红色显示。利于DM冻结测量功能，可以确定缺陷位置和形状信息，同时仪器可以自动计算出缺陷深度。

通过B扫和C扫比较，我们可以看出，C扫描具有更大的优势：

首先，C扫描的自身优势，可以观察到缺陷的导致形状。

其次，C扫描配备位置编码器，可以对探头扫查位置和缺陷位置进行准确定位。

最后，也是最主要的，检测相同的缺陷，C扫描具有更大的灵敏度（在上面的试验中，相差近10dB）。

3. 结论和优势

通过试验，我们可以得出以下结论：

（1） Phasor DM 完全可以实现蜂窝板蒙皮和蜂窝芯粘结质量以及蒙皮内部的检测，这是常规探伤仪甚至常规相控阵探伤仪实现不了的。

（2）同样的原理，Phasor DM 可以实现厚度1mm内的薄板内部缺陷的检测。

（3）对金属或复合材料的检测具有超强的分辨率，可以检测出深度1.9mm，φ1.5mm的平底孔。

（4） Phasor DM可以实现快速扫查，为客户大大提高生产率。